SRK 2026

POVZETEK
Ta tema predstavlja pomemben razvoj instrumentov srednjega cenovnega razreda za RF-testiranje in naslavlja napredne merilne zmogljivosti, ki obravnavajo sodobne izzive v brezžičnih komunikacijah in karakterizaciji visokofrekvenčnih komponent. Običajno so zelo natančne meritve velikosti vektorja napake (EVM) in popačenja zahtevale kompleksne sestave z več instrumenti, kot npr. mrežnimi analizatorji in spektralnimi analizatorji. Na trgu je na voljo nova rešitev, ki preseže to omejitev s ponudbo integrirane platforme, ki izvaja več meritev v eni sami testni napravi, kar znatno zmanjša stroške kalibracije, poenostavi testne konfiguracije ter izboljša ponovljivost in hitrost meritev. Ključne inovacije vključujejo vgrajeno programsko opremo za analizo modulacijskega popačenja, popolno vektorsko korekcijo na ravnini testirane naprave (DUT) in neposreden dostop do sprejemnika za močnostne aplikacije. To omogoča hitro in natančno karakterizacijo aktivnih naprav, kot so močnostni ojačevalniki (PA) in nizkošumni ojačevalniki (LNA). Takšen integriran pristop znatno pospeši postopek karakterizacije oddajnikov 5G NR.

ABSTRACT
This topic will present significant evolution in mid-range RF test instrumentation, integrating advanced measurement capabilities that address contemporary challenges in wireless communications and high-frequency component characterization. Traditionally, high-accuracy error vector magnitude (EVM) and distortion measurements required complex multi-instrument setups combining network and spectrum analyzers. There is a new solution available on the market that overcomes this limitation by offering an integrated platform that performs multiple measurements within a single test setup, substantially reducing calibration overhead, simplifying test configurations, and improving measurement repeatability and throughput. Key innovations include built-in modulation distortion analysis software, full vector correction at the device-under-test (DUT) plane, and direct receiver access for high-power applications — enabling fast and accurate characterization of active devices such as power amplifiers (PAs) and low-noise amplifiers (LNAs). This integrated approach significantly accelerates the characterization process for 5G New Radio (NR) transmitters.